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变频抗干扰介质损耗测试仪内部结构

来源： 扬州达瑞电气有限公司 日期：2020-03-19 09:58:39 点击：1847 属于：行业动态

变频抗干扰介质损耗测试仪内部结构

变频抗干扰介质损耗测试仪内部结构：
变频抗干扰介质损耗测试仪将升压与测量装置安装在一个机箱里，仪器内部具有最高输出电压达10KV的升压变压器，还安装有标准高压电容器，在内部高压测量范围内使用时无需任何外部设备，便于携带到试验现场使用；仪器方便用户灵活地进行多种方式的测量。仪器结构牢固，确保高、低压电路电气间隙和爬电距离符合GB4793.1-1995《测量、控制和试验室用电气设备的安全要求》中的有关规定。

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